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<p>Hola:<br>
El motivo del mail es recordarles la charla que dará Alejandro Strachan hoy jueves 20/12 a las 14hs en el aula Federman.<br>
Aprovechen para asistir porque puede ser la última charla antes del fin del mundo. Habrá café del fin del mundo pero no habrán vasos descartables porque queremos cuidar el medioambiente por si acaso no se terminara el mundo.<br>
<br>
Saludos cordiales,<br>
A.<br>
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A continuación va el título y resumen de la charla:<br>
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<br>
MODELADO DE MEMS DESDE PRIMEROS PRINCIPIOS CON CUANTIFICACIóN DE<br>
INCERTIDUMBRE<br>
<br>
<br>
/ALEJANDRO STRACHAN/<br>
<br>
School of Materials Engineering and Birck Nanotechnology Center<br>
Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA<br>
JUEVES 20/12 14 HS AULA FEDERMAN<br>
<br>
En esta charla presentare un modelo multiescala para predecir el<br>
comportamiento y degradación de un micro-switch para radio frecuencias<br>
desarrollado por el /Center for the Prediction of Reliability, Integrity<br>
and Survivability of Microsystems/ (PRISM) en la Universidad de Purdue. El<br>
sistema de interés es un switch de contacto actuado electrostáticamente y<br>
su comportamiento esta gobernado por procesos físicos acoplados que<br>
involucran: mecánica del sólido, dinámica de fluídos, contacto entre<br>
superficies con asperezas en nanoescala y cargas atrapadas en materiales<br>
dieléctricos. Describimos el dispositivo en términos de su composición<br>
química, nanoestructura y geometría usando redes de Bayes para<br>
cuantificar y propagar incertidumbre a través de escalas y procesos<br>
físicos. Las simulaciones a nivel del sistema son informadas por una<br>
combinación de: i) predicciones de primeros principios; ii) mediciones<br>
experimentales directas; and iii) experimentos de calibración; y predicen<br>
el comportamiento del sistema y la degradación de sus propiedades. La<br>
presentación se centrara en establecer la conexión entre procesos<br>
electrónicos y atómicos y las propiedades del sistema. En particular<br>
describiré cálculos de estructura electrónica que permiten entender y<br>
cuantificar la captura de carga por parte de materiales dieléctricos<br>
amorfos y simulaciones de dinámica molecular para caracterizar las<br>
propiedades mecánicas de asperezas a nanoescala.</p>
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