[Todos] PROXIMOS SEMINARIOS - EN PLURAL!

[Fernando V. Molina]

Viernes 18 de abril de 2008 - 13 hs

Aula de Seminarios del INQUIMAE, 3er piso Pab. II


Richard Foster-Turner
Presidente de OXFORD DIFFRACTION

ULTIMOS AVANCES EN DIFRACTOMETRIA DE RAYOS X DE MONOCRISTAL

Presentación de los últimos modelos de equipos 
con detectores CCD. Aplicaciones, con foco en la 
elucidación estructural de moléculas orgánicas y compuestos de coordinación.
Demostración del software CrysAlis Pro.


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Lunes 21 de abril de 2008 - 13 hs

Aula de Seminarios del INQUIMAE, 3er piso Pab. II


Dr. Gabriel Horowitz Rozenblum
Centro de Tecnología Argentina de YPF

Monitoreo Inteligente de Procesos


Resumen:
Las fallas de equipos e instrumentos son 
responsables de pérdidas económicas considerables 
en la industria de procesos. Esto ha determinado 
que, en los últimos años, se haya incrementado 
substancialmente el interés sobre el manejo de 
estos eventos anormales. Esto involucra la 
detección temprana,  diagnóstico y corrección de 
condiciones de operación anormales en un
proceso. Una detección y, preferentemente, un 
diagnóstico temprano de fallas en el 
funcionamiento de un proceso pueden evitar la 
progresión y eventual complicación de la falla.

El monitoreo inteligente de procesos es un 
conjunto técnicas estadísticas y de sistemas 
inteligentes que permiten diagnosticar problemas 
en procesos. El punto de partida de todos estos 
métodos es la comparación de la situación actual 
de la planta con un modelo del comportamiento 
normal de la misma. Estos modelos pueden ser tanto físicos como empíricos.

La charla tratará sobre las metodologías de 
Monitoreo inteligente de procesos disponibles en 
el estado actual del arte y, principalmente, de 
los desarrollos realizados en el Centro de 
Tecnología Argentina de YPF en el tema.
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